簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果:共3筆資料 檢索策略: "back-propagation neural network".ekeyword (精準) and ckeyword.raw="瑕疵檢測"


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    1

    應用機器視覺於發光二極體外觀瑕疵檢測
    • 自動化及控制研究所 /96/ 碩士
    • 研究生: 廖尹業 指導教授: 郭中豐
    • 本研究係發展一套發光二極體(light emitting diode, LED)自動光學檢測(automatic optical inspection, AOI)系統,應用機器視覺與倒傳遞類神經網路…
    • 點閱:380下載:0
    • 全文公開日期 2013/07/29 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    2

    應用倒傳遞類神經網路技術於IC雷射印字辨識與瑕疵檢測之研究
    • 自動化及控制研究所 /98/ 碩士
    • 研究生: 王世憲 指導教授: 邱士軒
    • 本研究提出一套IC雷射印字辨識與印字瑕疵的檢測系統,以達到高辨識率與高效能的表現,檢測系統可區分為三個流程:IC膠體定位、字元切割與辨識及印字瑕疵檢測流程。IC的膠體定位,利用投影量變化找出IC的位…
    • 點閱:239下載:15

    3

    結合影像處理技術及分類方法於自動化偏光膜瑕疵檢測之研究
    • 自動化及控制研究所 /102/ 碩士
    • 研究生: 賴俊宇 指導教授: 郭中豐
    • 本研究應用影像處理技術及分類方法於液晶顯示器(liquid crystal display, LCD)偏光膜(polarizing film)的瑕疵檢測與分類。因偏光膜產業的競爭越來越激烈,然而目前…
    • 點閱:710下載:0
    • 全文公開日期 2019/08/05 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)
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